HP4155A 半导体参数分析仪 惠普4155A
采样(时域)测量,而无需变动连接。进而,对于可靠性评估还可做应力循环测量,
例如热载流子的注入和快速EEPROM测评。
可通过前面板键,键盘,或GPIB(SCPI命令)多种途径通过设置页面和添入空格进行
设定和测量,还可通过钮扫描功能进行短暂测量和查寻设定一类似于曲线描图仪。
显示和分析测量和分析结果显示在彩色的LCD上,可由4个图形存贮器做存贮器做存贮,
以便分析。比较。强有力的分析手段,使得很容易对诸如hFE,Vth等多种参数进行抽取。
一旦查得参数抽取条件,则可通过-自动分析功能自动地取得。输出和存贮
设定、测量,分析数据均可由GPIB,燕行或网络接口10base-T LAN输出至彩色绘图仪和打印机,
也可通过网络或3.5寸盘存贮在MS-DOS或LIF格式文件中。Graphic (Agilent-GL,PCL功TIF)
输出文件还允许将图形转换为桌面出版软件。重复和自动测试
Agilent 4155B的 Agilent仪器BASIC控制器,可在无控制器的外部仪器构成自动测量系统。
4155B可通过多用触发I/O功能与外部仪器相同步。
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实验室仪器回收 HP4155A半导体分析仪的详细信息由深圳市宝安区沙井承恒通讯设备商行(销售)提供,该企业负责实验室仪器回收 HP4155A半导体分析仪的真实性、准确性和合法性。迅收网对此不承担任何保证责任。
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