AQ6317C 回收 光谱分析仪
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安藤AQ6317C的是一种先进的广泛应用，
AQ6317C是先进的光谱分析仪，它应用广泛，适用于光学仪器中的光源测试、波长损耗特性的测量以及WDM系统的波形分析。
　　特别对于C波段和L波段，该装置有很高的波长精度和波长线性特性，并且能对用于WDM的光学仪器进行测评。装置所提供的分析功能使操作和扩充变得简单。与以前的型号相比，AQ6317C的波长精度已提高到±20pm，并且该指标值也是L波段的公称值。WDM的分析功能和凹口宽度的分析功能已得到进一步改善，并新增加了多通道NF分析功能和光滤波器的分析功能。加上在其它方面的改进例如扫描的加速，该装置非常容易操作和使用。
　　AQ6317C包含了Ando关于光谱分析仪的最新技术-是下一代测试的参考设备。
特点：
1、 高波长精度
　　在600至1750nm全波长范围内，精度可达±0.1nm，在1520-1580nm范围内，精度高达±0.02nm，在1450到1520nm、1580-1620nm范围，精度高达±0.04nm。特别适用于WDM器件的高精度波长损耗特性测量。
2、 高波长线性度
　　±0.01nm（C波段）；±0.02nm（S及L波段）
3、 高波长分辨率
　　波长分辨率可达15pm甚至更好。
　　图1 DFB激光光谱的测量举例
4、 适用50GHz WDM信号的宽动态范围
　　在峰值±0.4nm时的动态范围为70dB，在峰值为±0.2nm时的动态范围为60dB。
　　对于50GHz WDM系统在宽动态范围内可进行高精度测量。
　　图2动态范围内进行精确测量的例子
5、 更快的测量速度
　　在高精度测量时，比以前型号的测量速度加快2倍以上。
6、 多种分析功能
　　对WDM以及其它光学设备（LD，LED，FBG等）的分析功能、可编程功能，光放大器噪声分析功能、曲线拟合功能、多信道噪声分析的SSE抑制功能。另外，还增加了模板用于生产质量测试的检验功能，外部气体吸光设备校正波长功能。
7、 同步扫描
　　与一个AQ4321A/D可调谐光源连接，通过高速同步扫描（最高速度：10nm/秒）可达到更高波长分辨率和更宽的动态范围。
8、 宽带宽、高灵敏度和大功率测量
　　-90至+20dBm（1200to1600nm）
　　-80至+20dBm（1600to1700nm
　　高灵敏度使得对低至-90dBm的光波都能进行测量，覆盖范围为1200至1600nm.
　　能对光放大器和高功率激光二级管进行直接测量，因为对每一个分辨率达至+20dBm的测量都是可能的。
9、 低偏振相关特性
　　偏振相关性被压低至±0.05dB可精确地对诸如光放大器增益等器件特性进行测量。
10、 高精度
　　精度控制在±0.3dB
11、9.4英寸彩色Lcd
12、 能测量脉冲光
13、 有三个单独的轨迹，存储器。
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